材料世界網 - 文章列印 奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用 2010/7/16 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; SNOM)的發明是第一次利用近場光學技術來突破光學繞射極限，發展至今已有20餘年的歷史，已應用在資料儲存、奈米微影、奈米時域解析 ...
AFM-近場光學顯微鏡 第9章. 近場光學顯微鏡(SNOM). 1.原理. 使用由熔拉或腐蝕光纖波導所製成之探針， 在外表鍍上金屬薄膜已形成末端具有15nm至100nm直徑尺寸之光學孔徑(optical ...
近場光學顯微鏡(SNOM) 近場光學顯微鏡(SNOM). 目前正在測試近場光學系統。近場光學顯微術的空間解析度接近於電子顯微鏡的高解析度，並兼具傳統光學顯微鏡的優點，屬於非破壞性 ...
近場光學顯微鏡(SNOM) 近場光學顯微鏡(SNOM). 組員:何采宇M9710213. 周鈺翔M9710251. 蔡智凱M9710214. 陳利鴻M9610235. 目錄. 發展; 原理與架構; 工作模式; 應用與未來發展. 近場 ...
第三節奈米科技尺度 原子力顯微鏡（AFM）. 近場光學顯微鏡（SNOM）. 掃描穿隧顯微術. （Scanning Tunneling Microscopy）. 源於1980年代初期，能解析出晶體表面的原子結構及電子分佈 ...
掃描近場光學顯微鏡snom&afm-witec - 先鋒科技 近場光學顯微鏡,拉曼顯微鏡,螢光顯微鏡,原子力顯微鏡,掃描近場光學顯微鏡,掃描式近場光學顯微鏡,witec,snom,Afm,拉曼光譜儀,Alpha300S,alpha500 應用舉例‧高 ...
掃描近場光學顯微鏡snom&afm-witec - 螢光/拉曼/紅外/UV ... 近場光學顯微鏡,拉曼顯微鏡,螢光顯微鏡,原子力顯微鏡,掃描近場光學顯微鏡,掃描式近場光學顯微鏡,witec,snom,Afm,拉曼光譜儀,Alpha300S,alpha500 應用舉例‧高 ...
掃描[式]近場光學顯微鏡{同NSOM} - 學術名詞暨辭書資訊網 掃描[式]近場光學顯微鏡{同NSOM}. scanning near-field optical microscope {= SNOM}. 以scanning near-field optical microscope {= SNOM} 進行詞彙精確檢索結果 ...
散射式掃描近場光學顯微鏡－次十奈米級光學檢測 目前解析度已可解析到原子等級。家族成員中的掃. 描近場光學顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM). (2, 3) 為突破光學繞射極限的先. 鋒，是研究奈 ...
snom technology AG snom: Engineered in Germany ... snom joins with Far South Networks to expand first-class channel service in South Africa. southafrica ...
